近年、分析装置や分析業務の高度化、多様化はめざましく、より高度な分析技術が求められるようになっています。ところがGCやLCに代表されるクロマト分析では、時に試料容器となるバイアルの良し悪しで思わぬ試験不良が引き起こされます。

クロマト分析でよく経験する試験不良

• 試料溶液調製後の時間経過とともに目的成分が減少
• 目的成分の減少傾向とともに新たな成分が出現、増加
• バイアル変更時に従来見られなかったゴーストピークが突如出現

これらの試験不良はバイアルが原因となっている場合があります。

バイアルが試験不良を起こす原因

バイアルは、良質のホウケイ酸ガラスの生地管を高温加熱成型により製造されます。その過程では数度にわたり高温にさらされることから、材料に起因するアルカリ成分やシラノール基が発生し、バイアル内表面にこれらの成分に富んだ層を形成すると考えられています。

• アルカリ成分：目的成分を分解させて減少させます。
• シラノール基：目的成分をバイアル内壁面に吸着して減少させます。

この他、製造後の包装、流通管理不良によってバイアルが汚染され、それが原因となりゴーストピークの発生が引き起こされる場合があります。

試験不良を解消した国産バイアル

テクノラボエスシィが提供する国産ガラスバイアルは、高温加熱成型過程の加工温度を適正化した独自の製造方法により、試験不良の原因となるアルカリ成分やシラノール基の発生を極限まで低減しています。また、医薬品用ガラス容器の製造・供給に実績のある国内企業と提携して、ＧＭＰに準拠した環境のもと、包装・流通過程での汚染にも配慮した徹底的な品質管理を行って製造・出荷しています。

国産バイアル製造方法の効果は？

指標の一つとなるNaイオンの溶出量について、極めて低い数値となっています。

Naイオン溶出量の比較

セプタムのHPLC分析比較

国産バイアルキットでは、溶出を極小化したセプタムを使用しています。

また圧着型セプタムを使用しているため、バイアル内へのセプタム落下を抑制しています。クロマト分析の試験不良の解消には、多方面からのアプローチを行う必要がありますが、バイアルに関してはテクノラボエスシィの国産バイアルを使用することで要因の一つを取り除いてください。

併せて知っておきたい試験不良の別の要因

クロマト分析の試験不良にはバイアル以外にもセプタムに起因するものがあります。
主なものとして、

• GC分析ではシリコン材料からのシロキサン類の溶出
• LC分析ではフタル酸エステル系の可塑剤の溶出
• その他物理的な不具合の発生

などが挙げられます。